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牛津CMI233涂层测厚仪/磁性测厚仪(天巴检测)

2007-02-06 00:00
牛津CMI233涂层测厚仪/磁性测厚仪(天巴检测)
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牛津CMI 233涂层测厚仪/膜厚仪/磁性测厚仪

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关键字:测厚仪,膜厚仪,涂层厚度,CMI 233测厚仪,电镀测厚,CMI150测厚仪,X射线荧光测厚仪

产品系列:· CMI120磁性测厚仪(膜厚仪)
· CMI140涡流测厚仪 (膜厚仪)
· CMI150两用测厚仪 (膜厚仪)
· CMI233双探头测厚仪(膜厚仪)
· CMI243测厚仪(测铁上镀锌、镍可达到700测厚仪精度)
· CMI700测厚仪(膜厚仪)

适用范围:

•所有铁/钢等磁性基材上的非磁性涂层,例如锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料或亚铁基底的搪瓷上的珐琅。
•所有铝/铜等导电基材上的非导电性涂层,例如阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料或在非亚铁基底上的环氧化物例如铜、黄铜或铝。

*:OXFORD CMI(英国牛津)

●测量方法:磁感应或涡流式
●测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片
●测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)
●分辨率:0.01mils(0.25μm)

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