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镀银层成分检测,18K镀层分析

2017-04-10 00:00
镀银层成分检测,18K镀层分析
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1、X射线光电子能谱(XPS)
   
2、俄歇电子能谱(AES物质的组织成相结构
3、X射线衍射仪(XRD)
4、扫描电子显微镜(SEM) 
5、X射线能谱仪(EDS)
6、微纳米力学综合测试系统
7、电化学综合测试仪
8、轮廓仪
   
9、金相显微镜
10、X射线荧光测厚仪
    等
极高的表面灵敏度 <
    10nm
检测原子序数大于氦的所有元素, 检测极限:0.1%
化学价态信息
深度分布
面扫描、线扫描分析
X光管:Cu靶、Co靶
光路:聚焦光路用于体相材料分析,同时配备高温样品台,温度范围:室温~1200℃
小角衍射(薄膜样品)
利用全反射可以测薄膜厚度
粉末、块体试样的物相测定
晶粒度、点阵常数测定
钢和铸铁中残余奥氏体测定
表面涂层、渗层物相分析
材料失效与事故分析 
首饰鉴定
研究材料的高温相变过程
薄膜材料的物相结构

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