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USB接口金镀层检测,厚度,成色分析

2017-04-10 00:00
USB接口金镀层检测,厚度,成色分析
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USB接口金镀层检测,厚度,成色分析
检测样品两个,可以出中英双文报告
深圳华瑞测张文15814667020,深圳民治大道恒润大厦563
金属镀层厚度采取的测试方法有:
1、光学显微镜法
2、库仑法
3、X射线荧光法(XRF)
其他的金属镀层测试有
1、镀锌、镀铝锌量测试
2、镀铝量测试
3、磷化物转化膜重量测试
4、铝和铝合金阳极氧化膜厚度(重量法)
5、铝和铝合金阳极氧化膜封孔质量
6、剪切试验
7、杯突试验
镀层厚度的测试标准
1、 光学显微镜法包括:1.GB/T 6462-2005
2.ASTM B487-07
3.ISO 1463-2003
4.EN ISO 1463-2004
5.JIS H8501-1999
2. 库仑法检测标准包括:1.ASTM B504-07
2.GB/T 4955-2005
3.ISO 2177-2003
4.DIN EN ISO2177-2004
5.JIS H8501-1999
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