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THINKFOCUS 膜厚测量仪 CLS-T150光学测量

2019-02-17 00:00
THINKFOCUS 膜厚测量仪 CLS-T150光学测量
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THINKFOCUS 膜厚测量仪 CLS-T150原理

INKFOCUS 膜厚测量仪 CLS-T150是利用光谱共焦法用波长信息测量距离的。由光源射出一束宽光谱的复色光(呈白色),通过色散镜头发生光谱色散,形成不同波长的单色光。每一个波长的焦点都对应一个距离值。测量光射到物体表面被反射回来,只有满足共焦条件的单色光,可以通过小孔被光谱仪感测到。通过计算被感测到的焦点的波长,换算获得距离值。光谱共焦法的同轴共焦原理可以保证即使被测物存在倾斜或者翘曲,也可以进行*的测量测量点不会改变。

THINKFOCUS 膜厚测量仪 CLS-T150 

膜厚测量仪是一款非接触式测量设备。采用全新的超高精密运动装置驱动共焦位移传感器进行在线扫描,主要是用来测量各种薄膜厚度、导电油膜厚度、涂胶厚度、涂层厚度等。专门解决工业上膜厚测量的问题,改善工艺,提高生产效率和质量。

 

*高扫描速度可以达到50mm/s,线宽15mm。扫描速度可以达到50mm/s,*的测量技术,*的测量算法,±1um的高测量精度,±0.5μm的重复精度可满足您*测量需求。 


THINKFOCUS 膜厚测量仪 CLS-T150技术参数

型号CLS-T150
测量速度≤50mm/s
测量时间≤2秒/次
测量点间距≥1μm自由设置
测量精度±1μm
行程(X方向)15mm-40mm(可选)
重复精度(X)±0.5μm
量程(Z方向)400μm/1400μm/4000μm
精度(Z)±0.1μm/0.5μm/1μm
*小可测厚度1μm
采样频率100Hz-10kHz
吸合电压24V DC
吸合时间500ms
主机输入电90-264V AC
主机额定功率400W
传感器输入24V DC 3A



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