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THINKFOCUS光谱共焦位移传感器CDS-200 OP2-Fc表面形貌扫描

2019-02-17 00:00
THINKFOCUS光谱共焦位移传感器CDS-200 OP2-Fc表面形貌扫描
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THINKFOCUS光谱共焦位移传感器 CDS-200 OP2-Fc型号技术参数


型号 CDS-200
测头 OP2-Fc
量程(mm) 0.4
工作距离(mm) 10.8
光斑直径(μm) 10
分辨率(nm) 10
线性度 ±0.025%F.S.
(F.S.=350μm)
*小可测量厚度(μm) 22
大可测量厚度(μm) 510
测量模式 距离和厚度
采样速度 100 Hz to 1000Hz
数字输出 USB 2.0 and RS232 (up to 460800 baud)
数字分辨率 距离模式: 30 bits
厚度模式:15 bits
同步 输入和输出0V - 5V TTL同步信号
丰富的触发功能
功能 “双频率”模式
“LED自动调节”模式
“抓*峰”模式
“保持*后值”模式
“厚度校正”
电源/功耗 100V to 240 V AC 50-60 Hz / 25W


THINKFOCUS光谱共焦位移传感器 CDS-200 OP2-Fc应用
微 位移、微形变*测量
超高线性度,可以作为传感器的标定使用
通过长度测量可以测量计算难以获取的微小应变
纯光学测头,不会受到强磁干扰,无温度散发,可以在真空中使用


在线检测
高测量速度和开放的接口,可以应用于生产线相关的检测或控制系统
色散原理具有超高的耐表面性,高光洁表面也可以稳定检测
侧视测量,可以测量*小直径7mm的微孔侧壁形貌


测振计
高速的测量频率和纳米级的分辨率,可以应用在物体的振动测量


厚度测量
*的色散共焦成像原理可以测量透明材料的厚度,具有极高的精确度


液位控制
非接触式测量,可以对液位进行检测和测量


表面形貌扫描
符合新的ISO25178规定,*高能够测量几纳米以下表面粗糙度
非接触式粗糙度测量,对表面没有任何影响
连接三维扫描设备,能够实现复杂表面的亚微米级精度的2D和3D测量


THINKFOCUS光谱共焦位移传感器CDS-200 OP2-Fc 具有*测量能力,可稳定测量任何材质(如,镜面、玻璃、不锈钢白色陶瓷、基板等材质)。

传统三角测距法对于反光较强的表面测量精度较差,光谱共焦位移传感器无论什么表面都可以在1μm精度内稳定测量。即使同时存在多种材质,使用同一安装方式也可以稳定测量。不用针对每一种材质进行重新安装或者调节,对于多种材质存在的被测物,也可用一个传感器,一种安装方式测量。


如有相关应用需要,请来电或留言跟我们联系,我们将给您提供*的技术支持!

THINKFOCUS 官网:http://www.think-focus.com/



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